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貴金屬元素分析儀

更新日期：2025-12-09
訪問次數：169?

貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。

　　一、貴金屬元素分析儀產品信息：

　　本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內水平。

　　二、貴金屬元素分析儀應用領域：

　　貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關制品的生產、銷售、回收的檢測；

　　用于各種金屬合金(銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等)的成份分析。

　　三、功能：

　　開放式工作曲線，可以根據需求建立新工作區

　　經驗系數法和基本參數法相結合

　　測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求

　　安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標

　　測試操作簡單，實現傻瓜式操作模式

　　報告模板多樣化，適應各種測試需求

　　四、儀器參數：

　　分析軟件：Ux-6280貴金屬分析軟件

　　分析元素種類：26種元素可同時分析

　　分析方法：基本參數法(定量)

　　分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素

　　測量范圍：ppm-100%

　　測量時間：100-300s

　　精確度：0.1%(常量相對誤差)

　　分辨率：149±5eV

　　管壓：5KV—50KV

　　管流：50uA—1000uA

　　功率：350W

　　外形尺寸：640(W)*474(D)*412(H)(mm3)

　　樣品倉尺寸：300(W)*300(D)*100(H)(mm3)

　　重量：約48Kg

　　工作環境：15-30°C，相對濕度≤85%(不結露)

　　工作電源：AC220-240V，50/60Hz，350W

　　五、標準配置：

　　探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm2；Be窗厚度為1mil

　　高壓電源：高壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩定性0.05%

　　X射線管：薄鈹窗側窗X射線管(Mo靶、Rh靶)

　　高清攝像頭裝置

　　精確定位裝置

　　自動開蓋裝置

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